|
Принципиальным свойством электронной, оптической, ядерной микроскопий является, то что каждая частица,
провзаимодействовавшая с образцом, будь то атом или субатомные объекты, является зондом. Однако, у данного
метода есть свои минусы и плюсы. Так квантовый принцип неопределённости, гласящий, что определение одновременно импульса
и координаты объекта исследования, возможно только с определённой точностью, заставляет увеличивать импульс
регистрирующих частиц (энергию), что связано с созданием специальных технологий. Увеличение импульса регистрирующих
частиц (например, электроны в ПЭМ достигают энергий до 1000 КэВ) создаёт проблемы с устойчивостью
объекта к разрушению. Однако плюсом является тот факт, что одновременно получается информация сразу с относительно
большого участка поверхности, что позволяет использовать данный метод для in-situ исследований. Так же главным
недостатком данного вида микроскопии можно назвать условие относительного вакуума, для получения более менее качественного
изображения.
Атомно-силовая микроскопия позволяет обрабатывать образцы в атмосфере, однако, главным её недостатком является
отсутствие одновременной информации о всей поверхности, — в каждый момент времени мы имеем
информацию только от участка непосредственно регистрируюемого зондом. Это не позволяет использовать in-situ
методику. Атомно-силовая микроскопия позволяет получать информацию о поверхностном заряде, о поверхностной
емкости, о поверхностной проводимости, о магнитных свойствах. Позволяет измерять эти параметры даже сквозь
плёнку жидкости.
|
|  |
|
